技术指标
材料种类:用于Ti、Cu、Cr、Au、Ni、Mo、Zn、Mg等金属薄膜制备
速率:0.1Å/s-10Å/s
厚度:1nm-1um
用途
1. 电镀金属种子层;
2. 带胶剥离法制备金属化图形电极;
3. IBE干法刻蚀制备金属化电极;
4. 干法刻蚀金属硬质掩膜。
材料种类:用于SiO₂、Al₂O₃、Parylene-C等绝缘薄膜制备
速率:0.1Å/s-10Å/s
厚度:1nm-5um
用途
1. PDMS键合;
2. 薄膜晶体管介电层。
材料种类:用于IGZO、ZnO、ITO、IZO、AZO、Ga₂O₃等半导体薄膜制备
速率:0.1Å/s-1Å/s
厚度:1nm-100nm
用途
1. 透明导电电极;
2. 薄膜晶体管沟道材料;
3. 光电探测器。
技术指标
紫外光波长:350nm~450nm
光强均匀性:2% (6英寸的衬底)用途
将芯片制作所需要的线路与功能区图形从掩膜板复制到样品上。光刻机发出的光通过具有图形的掩膜版对涂有光刻胶的样片曝光,利用感光后的光刻胶在溶液中的溶解速度不同实现图形的复制。
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